產(chǎn)品列表
PROUCTS LIST
相關(guān)文章
ARTICLE
產(chǎn)品中心Products 當(dāng)前位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 集成電路電磁兼容測(cè)試 > 電磁干擾測(cè)試
-
LANGER EMV-Technik SX近場(chǎng)探頭組 信號(hào)分析儀LANGER EMV-Technik SX近場(chǎng)探頭組專門為近場(chǎng)測(cè)試設(shè)計(jì)的探頭，電磁兼容工程師*的基本工具，用于在產(chǎn)品開發(fā)期間探測(cè)PCB的電磁場(chǎng)情況
查看詳細(xì)介紹 -
電磁干擾發(fā)射探頭電磁干擾發(fā)射探頭P600 / P750 set 的測(cè)量結(jié)果保證了測(cè)量結(jié)果的高重復(fù)性和可比性?？梢允褂肅hipScan-ESA軟件進(jìn)行測(cè)量。所有被測(cè)引腳的測(cè)量結(jié)果通過(guò)軟件保存。它允許系統(tǒng)地和快速地比較和分析測(cè)量數(shù)據(jù)。
查看詳細(xì)介紹 -
電磁干擾發(fā)射探頭電磁干擾發(fā)射探頭S603 / S750 set 的測(cè)量結(jié)果保證了測(cè)量結(jié)果的高重復(fù)性和可比性?？梢允褂肅hipScan-ESA軟件進(jìn)行測(cè)量。所有被測(cè)引腳的測(cè)量結(jié)果通過(guò)軟件保存。它允許系統(tǒng)地和快速地比較和分析測(cè)量數(shù)據(jù)。
查看詳細(xì)介紹 -
電磁干擾發(fā)射探頭組電磁干擾發(fā)射探頭組P603 / P750 set ，該探頭組能夠接觸到測(cè)試IC的每個(gè)引腳。 該探頭套組能夠確保較高的測(cè)量重復(fù)精度和測(cè)量的可比較性。
查看詳細(xì)介紹 -
電磁干擾發(fā)射探頭組電磁干擾發(fā)射探頭組P603-1 / P750 set,基于IEC61967-4標(biāo)準(zhǔn)的傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量,該探頭套組用于測(cè)量IC引腳的傳導(dǎo)發(fā)射（采用1歐姆/150歐姆直接耦合進(jìn)行測(cè)量）。
查看詳細(xì)介紹
共 5 條記錄，當(dāng)前 1 / 1 頁(yè) 首頁(yè) 上一頁(yè) 下一頁(yè) 末頁(yè) 跳轉(zhuǎn)到第頁(yè)
